一种同步辐射软X射线无损实时位置分辨电离室
- 申请号:CN201611088759.5
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海应用物理研究所
- 公开(公开)号:CN106783502A
- 公开(公开)日:2017.05.31
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种同步辐射软X射线无损实时位置分辨电离室 | ||
申请号 | CN201611088759.5 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106783502A | 公开(授权)日 | 2017.05.31 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明(设计)人 | 薛超凡;吴衍青;王勇;邰仁忠 |
主分类号 | H01J47/02(2006.01)I | IPC主分类号 | H01J47/02(2006.01)I;G01T1/29(2006.01)I |
专利有效期 | 一种同步辐射软X射线无损实时位置分辨电离室 至一种同步辐射软X射线无损实时位置分辨电离室 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提供一种同步辐射软X射线无损实时位置分辨电离室,包括密封壳体以及在所述密封壳体中上下平行对置的高压电极板和收集电极板,其特征在于,所述收集电极板呈矩形,并由两个呈直角三角形的微通道板模块拼接而成。本发明通过将收集电极板设计为由两个呈直角三角形的微通道板模块拼接而成,从而可利用微通道板模块对电流信号放大的作用,使得电离室即使工作在高真空下,也可以输出能够被检测到的电流,进而实现对软X射线光束强度、位置的无损实时监测。 |
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