专利详情

专利名称	一种光学系统鬼像测量装置及其测量方法
申请号	CN201610717298.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106248351A	公开（授权）日	2016.12.21
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	薛勋;赵建科;刘尚阔;张洁;胡丹丹;李坤;曹昆;昌明;王争锋;李晶;赵怀学;陈永权;段亚轩;田留德;潘亮;徐亮;刘峰;赛建刚;周艳;高斌;高博
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种光学系统鬼像测量装置及其测量方法至一种光学系统鬼像测量装置及其测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种光学系统鬼像测量装置，沿光路依次设置有光源、扩束准直系统、双路旋转式轴向指向可调分光系统和待测光学系统；双路旋转式轴向指向可调分光系统包括分光组件、旋转组件、轴向伸缩组件、折轴镜、指向调整组件和支撑组件；分光组件设置于轴向伸缩组件的一端，指向调整组件设置于轴向伸缩组件的另一端；折轴镜安装于指向调整组件上；旋转组件带动轴向伸缩组件、分光组件、折轴镜及指向调整组件旋转。使用分光棱镜的特性，将一束准直扩束光束分为两路，通过双路旋转式轴向指向可调分光系统，可实现分光光路绕透射光轴夹角锥面旋转，得到待测光学系统的三维空间鬼像位置的分布。