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一种跟踪稳定度测试装置及方法

  • 申请号:CN201610701742.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN106226759A
  • 公开(公开)日:2016.12.14
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种跟踪稳定度测试装置及方法
申请号 CN201610701742.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN106226759A 公开(授权)日 2016.12.14
申请(专利权)人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明(设计)人 田留德;赵建科;王涛;赵怀学;周艳;刘艺宁;万伟;潘亮;张海洋;张婷;段亚轩;薛勋;曹昆;李坤;刘尚阔;张洁;胡丹丹
主分类号 G01S7/497(2006.01)I IPC主分类号 G01S7/497(2006.01)I
专利有效期 一种跟踪稳定度测试装置及方法 至一种跟踪稳定度测试装置及方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供一种跟踪稳定度测试装置及方法,整个测试装置有目标模拟组件、跟踪稳定度测量组件、运动模拟组件三部分组成。目标模拟组件位于跟踪稳定度测量组件的上方,目标模拟组件中的小口径平行光管与跟踪稳定度测量组件中的长焦距平行光管光轴平行,两者之间在高低方向的距离可根据被测光电跟踪成像设备的需要具体调整。被测光电跟踪成像设备位于运动模拟组件的上方,且被测光电跟踪成像设备位于目标模拟组件和跟踪稳定度测量组件的前方,被测光电跟踪成像设备位于小口径平行光管和长焦距平行光管出口处。本发明可以解决光电跟踪成像设备跟踪稳定度这一关键技术指标的实验室内的测试和评价问题,且具有较高的测量精度。

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