专利详情

专利名称	PST测试中入瞳电压值标定系统及PST测试系统
申请号	CN201721757889.3	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN207636279U	公开（授权）日	2018.07.20
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	李朝辉;赵建科;徐亮;刘峰;李晓辉;张玺斌;于敏;伍建军;张海洋
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	PST测试中入瞳电压值标定系统及PST测试系统至PST测试中入瞳电压值标定系统及PST测试系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型属于光学系统杂散光测试领域，具体涉及PST测试中入瞳电压值标定系统及PST测试系统。沿光路依次设置激光器、积分球、斩波器、离轴抛光管及PMT探测器；还包括锁相放大器与设置在离轴抛光管焦面处的星点板；锁相放大器与PMT探测器及斩波器电连接；激光器光束耦合进积分球，积分球的出射光依次经过斩波器、离轴抛光管后进入PMT探测器。PST测试时，结合平行光管出光口的照度及PMT探测器在增益M1下的响应度计算待测光学系统入瞳孔径处的电压值。解决了使用衰减片或计算标定时，入瞳电压难以准确获取的问题。