专利详情

专利名称	基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统
申请号	CN201721746908.2	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN207636186U	公开（授权）日	2018.07.20
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	闫亚东;何俊华;许瑞华;齐文博;韦明智;吴冰静
主分类号	G01J3/44(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/44(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I
专利有效期	基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统至基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型属于光学测量技术领域，具体涉及一种基于散射板散射取样的全孔径背向散射光测量系统，该系统包括离轴抛物面型散射板和位于离轴抛物面型散射板焦点处的探头组，所述探头组包括两个能量测量单元、两个时间测量单元、两个光谱测量单元、一个标定探头单元和一个空间分布测量单元。本实用新型采用一个探头组直接对离轴抛物面型散射板的漫反射光进行测量，具体包括空间分布测量、光谱测量、时间测量、能量测量等，显著简化了取样和测量光路，克服了采用长焦聚焦镜的系统体积庞大的缺点，特别适合于多束激光合束打靶的情况，能够满足大规模激光驱动装置全孔径背向散射诊断的需求。