一种用于点源透过率测试的测试腔体
- 申请号：CN201721757886.X
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN207636489U
- 公开(公开)日：2018.07.20
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 一种用于点源透过率测试的测试腔体 | ||
| 申请号 | CN201721757886.X | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN207636489U | 公开（授权）日 | 2018.07.20 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 李朝辉;赵建科;徐亮;刘峰;李晓辉;于敏;张玺斌 |
| 主分类号 | G01N21/59(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/59(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种用于点源透过率测试的测试腔体 至一种用于点源透过率测试的测试腔体 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 本实用新型属于光学系统杂散光测试领域，具体涉及一种用于点源透过率测试的测试腔体。包括密封腔体及设置在密封腔体外部的光陷阱；密封腔体的侧壁由横截面为优弧的两个曲面对接而成；两个曲面的对接处设入光口；密封腔体的顶部与底部通过平板密封。采用类似花生结构的密封腔体，进一步的内壁材料创造性地使用具有高吸收率(优于95％)和低散射率(低于1％)的亚克力板，有效避免了相机外壁二次反射光进入相机内部。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
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确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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平台保障
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