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原位时间分辨光栅衍射效率光谱测量装置和方法

  • 申请号:CN201710271676.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN107063456A
  • 公开(公开)日:2017.08.18
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 原位时间分辨光栅衍射效率光谱测量装置和方法
申请号 CN201710271676.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN107063456A 公开(授权)日 2017.08.18
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 邵建达;刘世杰;王圣浩
主分类号 G01J3/28(2006.01)I IPC主分类号 G01J3/28(2006.01)I
专利有效期 原位时间分辨光栅衍射效率光谱测量装置和方法 至原位时间分辨光栅衍射效率光谱测量装置和方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量装置和方法,测量装置包括超连续谱激光器、声光滤波器、光阑、偏振片、分束器、待测光栅、参考光高速探测器、聚焦透镜、积分球、测试光高速探测器和快电子学组件。超连续谱激光器和声光滤波器用于产生单色光束,参考光高速探测器用于测量参考光束的强度,积分球和测试光高速探测器用于测量衍射光束的强度,快电子学组件用于数据采集和数据处理。本发明在测量过程中,仪器的所有机械部件始终保持静止,光栅衍射效率光谱的测量速度因而得到了大大的提高,可实现原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量。

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