专利详情

专利名称	一种几何配准测试装置
申请号	CN201721376126.4	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN207528345U	公开（授权）日	2018.06.22
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	袁立银;谢佳楠;何志平;王跃明
主分类号	G01J3/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I
专利有效期	一种几何配准测试装置至一种几何配准测试装置	法律状态
说明书摘要	本专利公开了一种几何配准测试装置，特别适用于推帚式多单机外拼接成像光谱仪的测试。该装置由平行光管、移动靶标、支撑台和一维转折组件组成。该测试装置通过控制一维转台的旋转和平行光管焦面处的移动靶标的移动，进行推帚式多单机外拼接成像光谱仪的几何配准测试，通过数据处理后，得到多单机的几何配准关系。本专利用一维转台和平行光管焦面处的移动靶标替代了现行方法中的二维转台，克服了常用方法中对二维转台的精度和承重等指标要求高的问题，为推帚式多单机成像光谱仪提供了一种简易、高精度、高效率的几何配准测试方法。本专利适用于机载或星载对地观测多单机成像光谱仪的几何配准测试，也适用于多单机成像仪的几何配准测试。