专利详情

专利名称	深空微区自适应激光光谱及成像探测系统
申请号	CN201721316898.9	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN207528634U	公开（授权）日	2018.06.22
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	万雄;王泓鹏;袁汝俊;张铭;何强
主分类号	G01N21/65(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/65(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I
专利有效期	深空微区自适应激光光谱及成像探测系统至深空微区自适应激光光谱及成像探测系统	法律状态
说明书摘要	本专利公开了一种深空微区自适应激光光谱及成像探测系统，该系统由主控制器、光谱仪、光纤、三维电机驱动器、三维精密电动平台、数字脉冲延迟控制器与光学头部组成。本专利的有益效果是，提供了一种自适应激光光谱及成像探测系统，可在微区分析时自适应地调整聚焦光斑的直径；将电子目镜的区域平均灰度作为扫描成像点强度，同时满足自聚焦和宽谱扫描成像的要求；可同时实现三维空间LIBS元素分析、主动激光拉曼分子分析、高光谱荧光、可见宽谱扫描成像，提供多种信息以进行微区精细探测。