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一种光学系统立式装检装置及装检方法

  • 申请号:CN201610322142.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN105910552A
  • 公开(公开)日:2016.08.31
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种光学系统立式装检装置及装检方法
申请号 CN201610322142.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN105910552A 公开(授权)日 2016.08.31
申请(专利权)人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明(设计)人 康晓鹏;付兴;李华;王鹏;刘军鹏
主分类号 G01B11/24(2006.01)I IPC主分类号 G01B11/24(2006.01)I
专利有效期 一种光学系统立式装检装置及装检方法 至一种光学系统立式装检装置及装检方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种光学系统立式装检装置及装检方法,属于精密光学应用技术领域,该装检装置包括调整转台及在调整转台上自下至上依次设置的3个调整支架;调整转台用于放置被装检零件,3个调整支架安装在一固定安装架上,自下至上分别为补偿镜调整支架、干涉仪调整支架和自准平面镜调整支架;3个调整支架均包括竖向导轨和横向导轨,所述竖向导轨与固定安装架固连,横向导轨能够沿竖向导轨上下滑动;本发明能够避免由于重力原因引起的面形问题,装检光路可自由组合调节,可满足不同光学系统的检测需求。

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