专利详情

专利名称	半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法
申请号	CN201610110814.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN105784330A	公开（授权）日	2016.07.20
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	曹军胜;高志坚;尹红贺
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法至半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法，属于半导体激光器的检测技术领域，为了检测激光器巴条各单元光电特性的均匀性，将探针台、光学透镜和线阵CCD均安装于一维导轨上；线阵CCD和程控电流源均与微控制器系统连接；被测巴条安装于探针台上，程控电流源的输出端连接探针台的电极，电极与被测巴条连接；微控制器系统控制程控电流源驱动被测巴条，被测巴条的各发光点经过光学透镜成像于线阵CCD，微控制器系统通过线阵CCD采集被测巴条各发光点的亮度峰值，扫描电流每增大一步，微控制器系统就读取一次线阵CCD，直至有发光点的亮度峰值达到线阵CCD的饱和值为止；微控制器系统以被测巴条各发光点的亮度为样本计算其方差。