一种深紫外光倍频测试装置
- 申请号:CN201721252633.7
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院理化技术研究所
- 公开(公开)号:CN207336352U
- 公开(公开)日:2018.05.08
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 一种深紫外光倍频测试装置 | ||
申请号 | CN201721252633.7 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN207336352U | 公开(授权)日 | 2018.05.08 |
申请(专利权)人 | 中国科学院理化技术研究所 | 发明(设计)人 | 宗楠;杨峰;杨尚;彭钦军;许祖彦;张申金;王志敏;张丰丰 |
主分类号 | G01N21/33(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/33(2006.01)I |
专利有效期 | 一种深紫外光倍频测试装置 至一种深紫外光倍频测试装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型公开了一种深紫外光倍频测试装置,属于光学非线性频率变化技术领域,该测试装置包括:光源(1)设置在密闭暗室(2)外部的入口处,其发出紫外光进入到密闭暗室(2)内形成光路;密闭暗室(2)为真空或填充氮气的暗室;样品架(3)活动的设置在密闭暗室(2)内的光路上;样品库(4)设置在光路的一侧与样品架(3)对应的位置,容纳有一种或多种样品;样品控制杆(5)一端与样品架(3)连接,另一端伸出密闭暗室(2),控制样品架(3)在样品库(4)与光路之间移动。本实用新型通过活动设置的样品架(3)和样品控制杆(5)实现了在密闭暗室(2)中置换样品无需开腔的目的,测量误差小,保证了测试结果的重复性和可比性。 |
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