采用多探测器的光场光强分布测量方法
- 申请号：CN201710142748.9
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN107036710A
- 公开(公开)日：2017.08.11
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 采用多探测器的光场光强分布测量方法 | ||
| 申请号 | CN201710142748.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN107036710A | 公开（授权）日 | 2017.08.11 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 唐锋;王向朝;郭福东 |
| 主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/42(2006.01)I |
| 专利有效期 | 采用多探测器的光场光强分布测量方法 至采用多探测器的光场光强分布测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种采用多探测器的光场光强分布测量方法，该方法利用的系统包括光电传感单元、精密扫描台、信号处理与控制单元；采用的光电传感单元1包含2个以上的点探测器；精密扫描台带动光电传感单元扫描实现待测光场时，至少有一个参考探测器位于已检测位置，并通其光强检测值对传感探测器的光强检测值进行修正，消除光源光强波动对光强分布检测结果的影响。具有实现容易，结构简单，成本低的优点。 | ||
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