
基于磷酸二氘钾调制的线偏振分析器及其偏振测量方法
- 申请号:CN201710230860.8
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院国家天文台
- 公开(公开)号:CN107024277A
- 公开(公开)日:2017.08.08
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 基于磷酸二氘钾调制的线偏振分析器及其偏振测量方法 | ||
申请号 | CN201710230860.8 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN107024277A | 公开(授权)日 | 2017.08.08 |
申请(专利权)人 | 中国科学院国家天文台 | 发明(设计)人 | 侯俊峰 |
主分类号 | G01J4/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J4/04(2006.01)I |
专利有效期 | 基于磷酸二氘钾调制的线偏振分析器及其偏振测量方法 至基于磷酸二氘钾调制的线偏振分析器及其偏振测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种基于磷酸二氘钾调制的线偏振分析器及基于此线偏振分析器实施的偏振测量方法。线偏振分析器包括沿同一光轴依次排列的第一、第二KD*P调制器、1/4波片、检偏器、成像透镜和探测器;探测器将光强值送给计算机;信号发生器控制交流高压调制器,通过交流高压调制器对第一、第二KD*P调制器的频率相位实现调制;计算机控制同步控制器,同步控制器对信号发生器和探测器进行同步控制。本发明使用两个固定的KD*P调制器替代了传统的旋转加KD*P调制方式,入射光束射入便开始测量,测量速度快、灵敏度高,充分利用了KD*P晶体的高调制频率。 |
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