专利详情

专利名称	扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法
申请号	CN201710183419.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106949966A	公开（授权）日	2017.07.14
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	王瑄;李中梁;王向朝;曾爱军;南楠;陈艳;潘柳华;卢宇;宋思雨
主分类号	G01J3/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/28(2006.01)I
专利有效期	扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法至扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法，在扫频光学相干层析成像系统的参考臂中放置一个透明薄片，利用该透明薄片可以获得光程差为2nd的固定光程差干涉信号。通过密集采样采集系统的干涉信号，该信号包含薄片的干涉信号和样品干涉信号，利用薄片的干涉信号进行光谱标定，获得波数等间隔的样品干涉信号，再进行逆傅里叶变换的数据处理和图像重建算法，即可获得样品的层析结构图像。本发明利用一个透明薄片实现系统干涉信号的实时标定，结构简单，使用方便，避免了使用马赫?曾德(MZI)干涉仪等额外的器件，降低了系统成本和复杂性。