一种位移测量光学系统
- 申请号：CN201710123810.X
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号：CN106643478A
- 公开(公开)日：2017.05.10
- 法律状态：实质审查的生效
- 出售价格： 面议 立即咨询
专利详情
| 专利名称 | 一种位移测量光学系统 | ||
| 申请号 | CN201710123810.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN106643478A | 公开（授权）日 | 2017.05.10 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 姚东;沈宏海;李全超;陈成;张嬛 |
| 主分类号 | G01B9/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B9/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种位移测量光学系统 至一种位移测量光学系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种位移测量光学系统，包括激光光源、第一偏振分光棱镜、导光棱镜组、反射镜、偏振变换元件、第二偏振分光棱镜、光电转换器和处理系统。本发明位移测量光学系统，采用偏振分光元件对光源输出光进行分光，以偏振光作为参考光和测量光，基于激光干涉测量原理实现对物体位移的测量，可实现对大范围位移的高精度测量，并且与现有技术相比，本光学系统分光时对光源输出光能量损失小，提高了光源能量利用率，并且具有紧凑结构。 | ||
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言