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一种基于量子弱测量的极小相位测量系统

  • 申请号:CN201720779291.8
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学技术大学
  • 公开(公开)号:CN207317950U
  • 公开(公开)日:2018.05.04
  • 法律状态:
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专利详情

专利名称 一种基于量子弱测量的极小相位测量系统
申请号 CN201720779291.8 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN207317950U 公开(授权)日 2018.05.04
申请(专利权)人 中国科学技术大学 发明(设计)人 胡孟军;张永生;胡晓敏;柳必恒
主分类号 G01J9/02(2006.01)I IPC主分类号 G01J9/02(2006.01)I
专利有效期 一种基于量子弱测量的极小相位测量系统 至一种基于量子弱测量的极小相位测量系统 法律状态
说明书摘要 本实用新型公开了一种基于量子弱测量的极小相位测量系统,该极小相位测量系统包括:信号发生装置,所述信号发生装置用于生成二能级量子客体的初始态;所述初始态包括指针态以及系统态;极小相位信号映射装置,所述极小相位信号映射装置用于基于所述初始态,将极小相位信号映射到量子客体的指针态上;信号处理装置,所述信号处理装置用于对量子客体的系统态进行后选择,实现对极小相位信号的放大;提取装置,所述提取装置用于对量子客体的指针态在预设的测量基下提取放大后的所述极小相位信号;计算装置,基于放大后的所述极小相位信号计算所述极小相位信号。本实用新型技术方案可以应用于小于0.1弧度的极小相位信号的测量。

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