专利详情

专利名称	一种测试探测器像元内不均匀性的装置
申请号	CN201721026061.0	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN207318050U	公开（授权）日	2018.05.04
申请（专利权）人	中国科学院国家天文台	发明（设计）人	邱鹏;贾磊;邹思成;王建峰;兀颖;张鑫;芦嘉裕;陈腾;曾显群;李陶然
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种测试探测器像元内不均匀性的装置至一种测试探测器像元内不均匀性的装置	法律状态
说明书摘要	本实用新型主要属于天文观测领域，具体涉及一种测试探测器像元内不均匀性的装置。所述装置包括点光源系统和运动平台；所述运动平台使得待测的探测器在XYZ三维方向上运动；所述点光源系统提供小于探测器像元尺寸的像斑，运动平台置于点光源系统一侧，所述点光源在所述点光源系统的探测器像元内成像。本实用新型提供了测量探测器像内不均匀性的装置和方法，使用该装置和方法可以测量探测器像元内不均匀性，便于筛除均匀性较差的探测器，同时测量得到的数据可作为探测器拍摄目标图像的校准使用。