专利详情

专利名称	哈特曼波前探测器子孔径内多项模式的波前探测方法
申请号	CN201610858652.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN106546326A	公开（授权）日	2017.03.29
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	宣丽;李大禹;徐焕宇;姚丽双;张佩光;曹召良;穆全全;杨程亮;彭增辉;刘永刚;王少鑫;张杏云;王启东;王玉坤;朱召义
主分类号	G01J1/38(2006.01)I	IPC主分类号	G01J1/38(2006.01)I;G01J1/04(2006.01)I
专利有效期	哈特曼波前探测器子孔径内多项模式的波前探测方法至哈特曼波前探测器子孔径内多项模式的波前探测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明属于自适应光学技术领域，涉及哈特曼波前探测器的子孔径内存在前6项Zernike模式时的波前重构算法。其思想是：将哈特曼探测器中的背部相机置于微透镜阵列的离焦平面上，使光点斑扩展，利用光斑的光强分布解出发生低阶畸变的子波前。针对哈特曼波前探测器子孔径依次对第2到第6项Zernike模式的光响应进行模拟计算，如图1所示，得出子孔径响应矩阵；再利用传统方法测量整体波前的Zernike模式响应光斑阵列，通过子孔径响应矩阵解出每个子波前的模式系数向量，而整体波前响应矩阵的每个象元由解出的子波前模式系数向量组成。用该响应矩阵重构的整体波前能够保持自适应光学成像的高分辨率，提高了波前探测灵敏度。