一种用于磁流变加工设备中缎带凸起的光学标定方法
- 申请号:CN201610624019.2
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN106225714A
- 公开(公开)日:2016.12.14
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种用于磁流变加工设备中缎带凸起的光学标定方法 | ||
申请号 | CN201610624019.2 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106225714A | 公开(授权)日 | 2016.12.14 |
申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 张学军;王旭;薛栋林;王孝坤;张斌智 |
主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I |
专利有效期 | 一种用于磁流变加工设备中缎带凸起的光学标定方法 至一种用于磁流变加工设备中缎带凸起的光学标定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明了一种用于磁流变加工设备中缎带凸起的光学标定方法,属于光学加工技术领域。该方法是将抛光轮移置于扫描仪激光出射口的正上方,利用高速激光轮廓扫描仪来完成对抛光轮底部一定范围内的磁流变液缎带凸起的轮廓进行三维扫描,然后对扫描得到的三维数据进行分析来获取缎带凸起的中心位置相对于镜面的空间关系、缎带凸起是否置于抛光轮所在球面的最底部、磁流变液缎带凸起轮廓在一定范围内是否一致、同一位置的缎带凸起轮廓随时间的变化所反映的磁流变液稳定特性以及磁流变加工设备的虚拟轴角度的初步确定等相关信息。本发明能够解决在磁流变加工工艺中的磁场区磁流变液缎带凸起轮廓测量的问题。 |
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