一种基于空间域相位校正的孔隙成像方法及装置
- 申请号：CN201610566803.2
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院地质与地球物理研究所
- 公开(公开)号：CN106290412A
- 公开(公开)日：2017.01.04
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种基于空间域相位校正的孔隙成像方法及装置 | ||
| 申请号 | CN201610566803.2 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN106290412A | 公开（授权）日 | 2017.01.04 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明（设计）人 | 王彦飞;唐巍 |
| 主分类号 | G01N23/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/04(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种基于空间域相位校正的孔隙成像方法及装置 至一种基于空间域相位校正的孔隙成像方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供的基于空间域相位校正的孔隙成像方法及装置，对构建的相位对于投影数据的干扰模型建立空间域的离散化算子方程，并通过吉洪诺夫正则化方法及迭代法对所述离散化算子方程进行求解，得到了具有较高分辨率、结果稳定及收敛速度较快的成像结果，实现提高样品孔隙成像的分辨率、降低相位信息干扰以及减小相对误差的目的，能够对样品的纳米级孔喉、毫米?微米级孔隙进行较为精细的刻画。 | ||
交易流程
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