光学显微成像系统
- 申请号：CN201720730206.9
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
- 公开(公开)号：CN207114875U
- 公开(公开)日：2018.03.16
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 光学显微成像系统 | ||
| 申请号 | CN201720730206.9 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN207114875U | 公开（授权）日 | 2018.03.16 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明（设计）人 | 黄伟;杨刚;李丰;杨立梅 |
| 主分类号 | G02B21/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B21/36(2006.01)I;G02B21/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 光学显微成像系统 至光学显微成像系统 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 本实用新型提供一种光学显微成像系统，所述光学显微成像系统包括光源、依次远离所述光源并设置于所述光源的出射光路上的第一扩束准直器、显微镜、分光器、第二扩束准直器及图像获取装置，所述光源出射的光束依次经过所述第一扩束准直器、显微镜后形成具有样品信息的样品光，所述样品光经过所述分光器分光后形成两个光束，所述两个光束经过所述第二扩束准直器后成像在所述图像获取装置上。本实用新型提供的光学显微成像系统能够提高图像分辨率。 | ||
交易流程
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专利 -
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