
一种基于夏克 哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置
- 申请号:CN201720397461.6
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
- 公开(公开)号:CN206990194U
- 公开(公开)日:2018.02.09
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 一种基于夏克 哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置 | ||
申请号 | CN201720397461.6 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN206990194U | 公开(授权)日 | 2018.02.09 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电研究院 | 发明(设计)人 | 齐月静;卢增雄;齐威;苏佳妮;杨光华;张清洋;李兵;王宇 |
主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
专利有效期 | 一种基于夏克 哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置 至一种基于夏克 哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型公开了一种基于夏克 哈特曼波前传感器的光学系统波像差测量装置,该装置包括波长可调谐激光器、衰减器、聚焦物镜、Y型光纤耦合器、第一五维调整台、第一物镜、第一小孔板、准直物镜、分光板、第一夏克 哈特曼波前传感器、成像物镜、待测光学系统、球面反射镜、第二夏克 哈特曼波前传感器和数据处理模块。该测量装置结合了第一夏克 哈特曼波前传感器和第二夏克 哈特曼波前传感器,从测量结果中计算待测光学系统的波像差,只需一套测量装置便可实现不同工作波长光学系统像差的测量。 |
交易流程
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