高精度视场匹配的主被动立体光谱成像装置及其探测方法
- 申请号:CN201611198583.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN106644077A
- 公开(公开)日:2017.05.10
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 高精度视场匹配的主被动立体光谱成像装置及其探测方法 | ||
申请号 | CN201611198583.9 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN106644077A | 公开(授权)日 | 2017.05.10 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 高晓惠;孙鑫;朱少岚;王飞橙;高存孝;李洪波;李芸;武登山;赵强;胡炳樑 |
主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J3/42(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I |
专利有效期 | 高精度视场匹配的主被动立体光谱成像装置及其探测方法 至高精度视场匹配的主被动立体光谱成像装置及其探测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及一种视场匹配、主动探测和被动探测结合的高精度立体光谱成像探测装置与方法。该装置包括一个前置镜组、光路折返及分束组件、三线阵立体成像光谱仪组件和全波形激光雷达组件,全波形激光雷达与三线阵立体光谱成像仪的视场匹配。利用三线阵立体成像光谱仪结合搭载平台一维推扫运动,可以获得观测目标的高精度二维图像信息、高精度光谱信息和较低精度的高程信息;全波形激光雷达可以同步获取高精度高程信息和低精度空间分辨率。利用全波形激光雷达的高精度高程信息进行对同一视场地面像元的高程信息进行标定,最终可以获得高精度的三维空间信息和高精度的光谱信息。 |
交易流程
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专利 -
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