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一种浮空器质量特性参数测量方法

  • 申请号:CN201610460772.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
  • 公开(公开)号:CN106092196A
  • 公开(公开)日:2016.11.09
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种浮空器质量特性参数测量方法
申请号 CN201610460772.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN106092196A 公开(授权)日 2016.11.09
申请(专利权)人 中国科学院光电研究院 发明(设计)人 何泽青;秦玉梅;付强;张冬辉;栗颖思
主分类号 G01D21/02(2006.01)I IPC主分类号 G01D21/02(2006.01)I
专利有效期 一种浮空器质量特性参数测量方法 至一种浮空器质量特性参数测量方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及质量特性测量技术领域,尤其涉及一种浮空器质量特性参数测量方法。该测量方法具体包括:在浮空器囊体中充入空气,在浮空器囊体上选取两个悬挂点;在两个悬挂点处分别通过两个拉力传感器将浮空器向上牵引;在浮空器囊体的顶端和尾端分别悬挂两个重锤;分别测量两个悬挂点坐标、两个重锤之间的水平距离以及两个重锤之间的垂直距离;分别获得第一质心测试姿态时的力矩平衡方程以及第二质心测试姿态时的力矩平衡方程;将所述的两个力矩平衡方程联立,获得浮空器囊体的质心位置。该测量方法解决了测量过程中对浮空器姿态有较高精度要求的难题,计算方法简单,操作方便。

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