
应用于精密仪表的环境试验系统
- 申请号:CN201720143293.8
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院测量与地球物理研究所
- 公开(公开)号:CN206832484U
- 公开(公开)日:2018.01.02
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 应用于精密仪表的环境试验系统 | ||
申请号 | CN201720143293.8 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN206832484U | 公开(授权)日 | 2018.01.02 |
申请(专利权)人 | 中国科学院测量与地球物理研究所 | 发明(设计)人 | 涂海波;何建刚;张为民;柳林涛;王勇 |
主分类号 | G01M99/00(2011.01)I | IPC主分类号 | G01M99/00(2011.01)I |
专利有效期 | 应用于精密仪表的环境试验系统 至应用于精密仪表的环境试验系统 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型实施例提供了一种应用于精密仪表的环境试验系统,用于高精度测试精密仪器对温度、磁场、湿度、地倾斜等环境因素的适应能力和响应特性,包括:箱体;以及实验平台,用于放置被测试的仪器,且所述实验平台位于所述箱体内;其中,所述箱体安装于地面上,所述实验平台单独安装于基墩上,所述基墩与所述地面之间通过隔震沟隔开。本实用新型实施例,实验平台单独安装于基墩上,因此能够减小环境震动对试验的影响,从而提供低震动噪声的环境试验系统。 |
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