专利详情

专利名称	一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置
申请号	CN201720296551.6	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN206787949U	公开（授权）日	2017.12.22
申请（专利权）人	中国科学院金属研究所	发明（设计）人	李阁平;袁福森;储林华;罗倩倩;王练;高博;李晓珊;顾恒飞;刘承泽;韩福洲
主分类号	G01N3/24(2006.01)I	IPC主分类号	G01N3/24(2006.01)I
专利有效期	一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置至一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置	法律状态
说明书摘要	一种广泛适用于微型样品的单剪切性能测试装置，其为满足下述要求的剪切装置：其由中心对称结构的下剪切偶(1)和上剪切偶(2)配对组合构成，单个剪切偶构成如下：紧固连接部(7)、基础部(6)、配合对正部(4)；其中，基础部(6)为圆柱体形状，紧固连接部(7)、配合对正部(4)沿基础部(6)的轴向分别布置在其两端；紧固连接部(7)、基础部(6)、配合对正部(4)三者固定连接为整体的一体化结构；两个剪切偶的配合对正部(4)上设置有垂直于轴向的贯穿的长方体形样品槽(5)。本实用新型适用性广，建构简单，成本低，可操作性强，技术效果优良，其具有可预期的较为巨大的经济价值和社会价值。