一种激光频谱纯度测量装置
- 申请号：CN201720046739.5
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院武汉物理与数学研究所
- 公开(公开)号：CN206387498U
- 公开(公开)日：2017.08.08
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 一种激光频谱纯度测量装置 | ||
| 申请号 | CN201720046739.5 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN206387498U | 公开（授权）日 | 2017.08.08 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 | 发明（设计）人 | 张文冬;周林;王谨;詹明生 |
| 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J11/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种激光频谱纯度测量装置 至一种激光频谱纯度测量装置 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种的激光频谱纯度测量装置，涉及激光应用技术的激光频谱纯度分析领域。本装置是：半导体锥形放大激光器、单模保偏光纤、光纤准直镜、隔离器、二分之一波片、偏振分光棱镜、原子蒸汽共振吸收池、第2反射镜、第1反射镜和第2光强探测器依次连接或排列，第2光强探测器得到杂散光；第1光强探测器置于偏振分光棱镜下方，第1光强探测器得到参考光；将杂散光和参考光的比值用来标定激光频谱的纯度。本实用新型适用于定量化检测半导体锥形放大激光器频谱的纯度。 | ||
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