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一种用于光学传感器测量光路调整的集成调节结构

  • 申请号:CN201620733644.6
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
  • 公开(公开)号:CN205826946U
  • 公开(公开)日:2016.12.21
  • 法律状态:
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种用于光学传感器测量光路调整的集成调节结构
申请号 CN201620733644.6 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN205826946U 公开(授权)日 2016.12.21
申请(专利权)人 中国科学院光电研究院 发明(设计)人 齐威;齐月静;苏佳妮;卢增雄;王魁波
主分类号 G02B7/00(2006.01)I IPC主分类号 G02B7/00(2006.01)I
专利有效期 一种用于光学传感器测量光路调整的集成调节结构 至一种用于光学传感器测量光路调整的集成调节结构 法律状态
说明书摘要 本实用新型公开了一种用于光学传感器测量光路调整的集成调节结构,采用上、中、下三层的结构,其上层结构为紧凑型二自由度平移调整台,中层结构为圆筒形调高与调平结构,下层结构为支撑、密封和固定结构。其中,上层结构可以调节水平向X、Y位置,中间层通过与传感器安装座的调节螺钉可以调节θx、θy两个旋转自由度以及竖向Z的位置,最下层结构用于安装哈特曼传感器或CCD传感器。该集成调节结构为一个紧凑的模块,可以实现X、Y、θx、θy、Z五个自由度的调节,而且操作简洁,便于拆卸、安装、移动。

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