
一种准分子激光器绝对波长标定和校准装置
- 申请号:CN201620626534.X
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
- 公开(公开)号:CN205826269U
- 公开(公开)日:2016.12.21
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 一种准分子激光器绝对波长标定和校准装置 | ||
申请号 | CN201620626534.X | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN205826269U | 公开(授权)日 | 2016.12.21 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电研究院 | 发明(设计)人 | 李慧;赵江山;刘广义;韩晓泉;冯泽斌;白路军;周翊 |
主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
专利有效期 | 一种准分子激光器绝对波长标定和校准装置 至一种准分子激光器绝对波长标定和校准装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型公开了一种准分子激光器绝对波长标定和校准装置,该装置按光路方向顺次包括第一正透镜(1)、匀化片(2)、第二正透镜(3)、第一半透半反镜片(4a)和第二半透半反镜片(4b)、不同元素制成的第一空心阴极灯(5a)和第二空心阴极灯(5b)、第三正透镜(6a)和第四正透镜(6b)、第一滤光片(7a)和第二滤光片(7b)、第一紫外光电探测器件(8a)、第二紫外光电探测器件(8b)和第三紫外光电探测器件(8c),该装置采用两个分别填充不同元素的空心阴极灯,基于两种不同元素发出的至少两条193nm附近高吸收强度原子吸收线的方法来进行激光器绝对波长的标定和校准,利用两条强原子吸收线处产生的高对比度信号变化量,来提高绝对波长标定和校准的精度,并可能降低对探测电路精度的要求。 |
交易流程
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专利 -
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