
无液氦光谱学恒温器黑体辐射光源样品室
- 申请号:CN201620319806.1
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号:CN205808554U
- 公开(公开)日:2016.12.14
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 无液氦光谱学恒温器黑体辐射光源样品室 | ||
申请号 | CN201620319806.1 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN205808554U | 公开(授权)日 | 2016.12.14 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明(设计)人 | 张豫徽;康亭亭 |
主分类号 | G01J5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/00(2006.01)I;G01J5/04(2006.01)I;G01J5/06(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I |
专利有效期 | 无液氦光谱学恒温器黑体辐射光源样品室 至无液氦光谱学恒温器黑体辐射光源样品室 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本专利公开了一种无液氦光谱学恒温器黑体辐射光源样品室,样品室包括底座,防热辐射冷屏,样品架,内置温度计的铜块,玻璃钢底座,内置温度计小底座,温度计和加热电阻片。该样品室主要特征在于利用防热辐射冷屏屏蔽外界热辐射的干扰,利用热绝缘的黑体辐射光源系统辐射10μm以上波长的单色光。实现了在低温下对微弱现象的测试研究,比如对高灵敏度光电导性半导体材料的研究。 |
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