
一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统
- 申请号:CN201620615789.6
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院深圳先进技术研究院
- 公开(公开)号:CN205786412U
- 公开(公开)日:2016.12.07
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统 | ||
申请号 | CN201620615789.6 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN205786412U | 公开(授权)日 | 2016.12.07 |
申请(专利权)人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 发明(设计)人 | 陈昳丽;符吉祥;李栓;刘云;储大为;江帆;谢耀钦;王磊 |
主分类号 | G01N23/223(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/223(2006.01)I |
专利有效期 | 一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统 至一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型涉及计算机控制技术领域,具体涉及一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统,本实用新型包括:环形轨道,所述环形轨道上接有直线轨道,所述直线轨道的两末端分别与环形轨道相接,所述环形轨道上活动设置有第一支架,所述第一支架上设有相机,所述相机朝向环形轨道的内侧,所述直线轨道上分别活动设置有第二支架和第三支架,所述第二支架上设有X射线源,所述第三支架上设有样品存放部,所述X射线源的发光端设置于样品存放部的前方,且与该样品存放部相对准,所述样品存放部的后方设有X射线探测器。本实用新型在不伤害实验人的情况下,可以对成像系统进行操作,不用反复开关X射线源,从而解决实验操作不便的问题。 |
交易流程
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