专利详情

专利名称	传样装置及具有该装置的超高真空测量系统
申请号	CN201620514351.9	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN205749541U	公开（授权）日	2016.11.30
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	况鹏;曹兴忠;张鹏;王宝义;靳硕学;卢二阳;于润升;魏龙
主分类号	G01N35/04(2006.01)I	IPC主分类号	G01N35/04(2006.01)I;G01N35/10(2006.01)I
专利有效期	传样装置及具有该装置的超高真空测量系统至传样装置及具有该装置的超高真空测量系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型公开一种传样装置及具有该装置的超高真空测量系统，传样装置包括绝缘座、支架、样品托、送样杆以及磁耦合阀；绝缘座设于靶室内且开设有第一通孔；支架设于绝缘座内且具有向上伸出绝缘座的定位端，支架开设有贯通定位端的第二通孔，第二通孔与第一通孔对齐而形成一导孔；样品托用于可拆卸地放置至少一个样品，样品托上部的材质为顺磁性材料，其内部开设有开口于底面的定位槽；送样杆可升降地穿设于导孔，其顶端可调节地定位于定位槽，而使送样杆升降时带动样品托升降；磁耦合阀设于预抽室的顶盖的上方。本实用新型采用非机械配合的结构实现换样，各个结构的衔接处自然简单，免去了现有机械配合传样的复杂操作。