专利详情

专利名称	基于多线阵CCD平行拼接的二维位置光学测量系统
申请号	CN201620232299.8	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN205718836U	公开（授权）日	2016.11.23
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	刘爱敏;肖茂森;高立民;陆卫国;王海霞;贾乃勋
主分类号	G01B11/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/00(2006.01)I
专利有效期	基于多线阵CCD平行拼接的二维位置光学测量系统至基于多线阵CCD平行拼接的二维位置光学测量系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型提供了一种基于多线阵CCD平行拼接的二维位置光学测量系统，包括光源合作目标、共用物镜、分光镜组和线阵CCD组；分光镜组包括依次设置在共用物镜输出光路上的多个分光镜；线阵CCD组包括与分光镜一一对应的多个线阵CCD，且每个线阵CCD通过各自光路分别与光源合作目标共轭；每个线阵CCD的光敏面位于直角坐标系的YOZ平面，光敏长度方向与OZ轴平行。测量时，将待测物体与在光源合作目标固连；光源合作目标经共用物镜、分光镜组后成像于线阵CCD组上，由第一线阵CCD、第二线阵CCD，第三线阵CCD，……，第N线阵CCD共同完成光源合作目标的二维位置测量。本实用新型具有成本低、精度高的优点。