专利详情

专利名称	一种实现光学显微测量标定的测试平台
申请号	CN201620582650.6	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN205691285U	公开（授权）日	2016.11.16
申请（专利权）人	中国科学院武汉岩土力学研究所	发明（设计）人	汪进超;王川婴;胡胜;韩增强;王益腾
主分类号	G01L25/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01L25/00(2006.01)I
专利有效期	一种实现光学显微测量标定的测试平台至一种实现光学显微测量标定的测试平台	法律状态
说明书摘要	本实用新型公开了一种实现光学显微测量标定的测试平台，工作台上通过定位导向器安装有光学显微测量探头，光学显微测量探头包括探头外筒和测量头，测量头包括触针套，触针套周向开设有若干个触针安装孔，触针安装孔的孔底开设有针部穿出孔，触针安装孔内设置有触针，触针包括触针针部和触针端部，触针针部上套设有弹簧，触针针部一端穿出针部穿出孔，触针针部上设置有针部卡位件，触针套的内壁设置有触针夹，工作台上还设置有能往复运动的标定针，标定针与触针端部相抵。可实现光学显微测量仪器的标定；提供了光学显微测量仪器的标定的装置。设计巧妙，构思严密，结构体系简单，易于实施。