专利详情

专利名称	一种用于电化学发光成像测量的遮光及电磁屏蔽装置
申请号	CN201620094236.0	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN205538689U	公开（授权）日	2016.08.31
申请（专利权）人	中国科学院长春应用化学研究所	发明（设计）人	马英明;牛利;王伟;韩冬雪;包宇
主分类号	G01N21/76(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/76(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01N27/26(2006.01)I
专利有效期	一种用于电化学发光成像测量的遮光及电磁屏蔽装置至一种用于电化学发光成像测量的遮光及电磁屏蔽装置	法律状态
说明书摘要	一种用于电化学发光成像测量的遮光及电磁屏蔽装置，属于电化学发光成像测量技术领域。解决了现有技术中遮光及电磁屏蔽装置体积大，不利于安装和拆卸，使用十分不便，成本高的问题。该装置包括左闭合件、右闭合件和顶部闭合件且左闭合件、右闭合件和顶部闭合件的材料均为电磁屏蔽材料；其中，左闭合件和右闭合件的结构相同，左闭合件由外壳、顶板、把手、两个外沿、固定装置和胶套组成，顶部闭合件由底盘、顶盖、压紧件和胶圈组成。该装置结构小巧、简单，主体结构通过磁吸式方式固定，安装和拆卸方便，顶部闭合件能随探针一起移动，在遮光的同时便于实验的操作，同时该装置具有电磁屏蔽功能，电流信号不容易受到电磁波和外界环境的干扰。