一种基于相位编码的梯度匀场方法
- 申请号:CN201610077694.8
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院武汉物理与数学研究所
- 公开(公开)号:CN105807243A
- 公开(公开)日:2016.07.27
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种基于相位编码的梯度匀场方法 | ||
| 申请号 | CN201610077694.8 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN105807243A | 公开(授权)日 | 2016.07.27 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 | 发明(设计)人 | 刘造;鲍庆嘉 |
| 主分类号 | G01R33/3875(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/3875(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种基于相位编码的梯度匀场方法 至一种基于相位编码的梯度匀场方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于相位编码的梯度匀场方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)获取场图矩阵;(2)采集并计算当前磁场分布数据;(3)根据所述场图矩阵和当前场分布数据,采用Tikhonov规则化的奇异值分解法,得到各匀场线圈的电流改变量,并根据所述各匀场线圈的电流改变量重新配置匀场线圈电流;(4)根据步骤(3)中获得的各匀场线圈的电流改变量,计算相位残差:当相位残差满足收敛条件时结束,否则将各匀场线圈的电流修改后的磁场作为当前场,重复步骤(2)至(4)。实验证实,本发明与传统的梯度回波匀场方法相比,由于采用基于单点成像(Single?Point?Imaging)的纯相位编码采样方法,能明显的提高匀场效果。 | ||
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