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一种基于相位编码的梯度匀场方法

  • 申请号:CN201610077694.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院武汉物理与数学研究所
  • 公开(公开)号:CN105807243A
  • 公开(公开)日:2016.07.27
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种基于相位编码的梯度匀场方法
申请号 CN201610077694.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN105807243A 公开(授权)日 2016.07.27
申请(专利权)人 中国科学院武汉物理与数学研究所 发明(设计)人 刘造;鲍庆嘉
主分类号 G01R33/3875(2006.01)I IPC主分类号 G01R33/3875(2006.01)I
专利有效期 一种基于相位编码的梯度匀场方法 至一种基于相位编码的梯度匀场方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种基于相位编码的梯度匀场方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)获取场图矩阵;(2)采集并计算当前磁场分布数据;(3)根据所述场图矩阵和当前场分布数据,采用Tikhonov规则化的奇异值分解法,得到各匀场线圈的电流改变量,并根据所述各匀场线圈的电流改变量重新配置匀场线圈电流;(4)根据步骤(3)中获得的各匀场线圈的电流改变量,计算相位残差:当相位残差满足收敛条件时结束,否则将各匀场线圈的电流修改后的磁场作为当前场,重复步骤(2)至(4)。实验证实,本发明与传统的梯度回波匀场方法相比,由于采用基于单点成像(Single?Point?Imaging)的纯相位编码采样方法,能明显的提高匀场效果。

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