
一种轻便高光谱地表发射率无损测定装置
- 申请号:CN201520977814.0
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院地理科学与资源研究所
- 公开(公开)号:CN205246215U
- 公开(公开)日:2016.05.18
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 一种轻便高光谱地表发射率无损测定装置 | ||
申请号 | CN201520977814.0 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN205246215U | 公开(授权)日 | 2016.05.18 |
申请(专利权)人 | 中国科学院地理科学与资源研究所 | 发明(设计)人 | 吴骅;张雨泽;倪丽;李召良;唐伯惠;唐荣林;房世峰 |
主分类号 | G01J5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/00(2006.01)I;G01J5/02(2006.01)I |
专利有效期 | 一种轻便高光谱地表发射率无损测定装置 至一种轻便高光谱地表发射率无损测定装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型公开一种轻便高光谱地表发射率无损测定装置,它由参考板托板、延长臂、配重砣、转动组件、三角支撑架和中央控制系统组成;转动组件由步进电机和旋转台构成,步进电机设置在旋转台的一侧;转动组件设置在三角支撑架的上端,转动组件通过航空插头与中央控制系统相连接;旋转台的转动精度为0.1°,转动的角度为360°;参考板托板用于放置和固定参考板;参考板托板通过螺丝固定于延长臂的一端;所述配重砣设置在和参考板托板相对应的延长臂的另一端;延长臂装置在转动组件的旋转台上。本实用新型可以有效配合高光谱热红外光谱仪在不破坏目标地表的前提下,快速的获取高精度环境辐射,并结合地表发射率迭代优化算法,测定精度高,使用效果更好。 |
交易流程
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专利 -
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