专利详情

专利名称	一种分孔径共焦面全偏振态同时探测的偏振成像系统
申请号	CN201520906066.7	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN205192619U	公开（授权）日	2016.04.27
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	任立勇;屈恩世;梁健;巨海娟
主分类号	G01J4/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01J4/00(2006.01)I
专利有效期	一种分孔径共焦面全偏振态同时探测的偏振成像系统至一种分孔径共焦面全偏振态同时探测的偏振成像系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型涉及一种分孔径共焦面全偏振态同时探测的偏振成像系统，包括沿光路依次设置的前端望远镜系统、分光与聚焦系统以及探测器，其中，分光与聚焦系统包括沿光路依次设置的分光组件、传输组件和聚光组件，分光组件包括第一斜方棱镜组，传输组件包括四个对等的传输光路，聚光组件包括第二斜方棱镜组，第一斜方棱镜组包括沿四个方向紧密排布的四个第一斜方棱镜，第二斜方棱镜组包括沿四个方向紧密排布的四个第二斜方棱镜，解决了现有的偏振成像系统存在图像配准困难、偏振探测误差大的技术问题，本实用新型采用四路分孔径的方法来实现全偏振态同时探测，分成的四路光通道完全一致，不需要对每个通道单独进行相差校正，结构紧凑，光能利用率高。