专利详情

专利名称	阵列角反射器指向精度测量系统
申请号	CN201520498858.5	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN205192727U	公开（授权）日	2016.04.27
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	段战军
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	阵列角反射器指向精度测量系统至阵列角反射器指向精度测量系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型涉及阵列角反射器指向精度测量系统，包括光源、星点板、平行光管、半透半反平面镜、缩束镜头、滤光片、CCD相机以及PC机，光源经过星点板、平行光管发出平行光，平行光垂直入射半透半反平面镜，待测阵列角反射器位于半透半反平面镜的反射光路上，半透半反平面镜的透射光路上依次摆放有缩束镜头、滤光片以及CCD组件，CCD组件与PC机连接。本实用新型解决了现有的阵列角反射器的角锥棱镜指向精度测量方法存在测量过程复杂、测量效率低的技术问题，本实用新型可对大口径阵列角反射器子角锥指向精度进行直接测量，不需要进行多次数据拼接和判读，减小了多次测量带来的误差。