
具高功率脉冲离子源的磁控溅射装置
- 申请号:CN201520840239.X
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院兰州化学物理研究所
- 公开(公开)号:CN205152323U
- 公开(公开)日:2016.04.13
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 具高功率脉冲离子源的磁控溅射装置 | ||
申请号 | CN201520840239.X | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN205152323U | 公开(授权)日 | 2016.04.13 |
申请(专利权)人 | 中国科学院兰州化学物理研究所 | 发明(设计)人 | 张斌;张俊彦;高凯雄;强力;王健 |
主分类号 | C23C14/35(2006.01)I | IPC主分类号 | C23C14/35(2006.01)I |
专利有效期 | 具高功率脉冲离子源的磁控溅射装置 至具高功率脉冲离子源的磁控溅射装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型属于物理气相沉积领域,涉及一种具高功率脉冲离子源的磁控溅射装置。该装置包括由偏压电源供电的工件盘、与真空泵组相连的真空腔体,真空腔体内设有不少于2个的由电源Ⅰ供电的磁控溅射靶,相邻的磁控溅射靶之间设有由电源Ⅱ供电的高功率脉冲离子源,在真空腔体内形成闭环结构。本实用新型将高功率脉冲离子源同磁控溅射相复合,消除了高功率脉冲电源作为磁控溅射电源时产生的离子回流现象,保证了磁控溅射所需的高离化密度,高功率脉冲离子源提高了薄膜的沉积速率。 |
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