一种离轴抛物面离轴量的测量装置
- 申请号：CN201520736224.9
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号：CN205120039U
- 公开(公开)日：2016.03.30
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 一种离轴抛物面离轴量的测量装置 | ||
| 申请号 | CN201520736224.9 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN205120039U | 公开（授权）日 | 2016.03.30 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 于清华;孙胜利 |
| 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种离轴抛物面离轴量的测量装置 至一种离轴抛物面离轴量的测量装置 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 本专利公开一种离轴抛物面离轴量的测量装置，包括会聚光干涉仪、平行光干涉仪、自准平面镜、法兰盘和对可见波段高吸收的标记，利用光直线传播的原理，将离轴抛物面镜的通光孔径几何中心和焦点，投影到自准平面镜上，并分别标记，通过测量标记间距，测量离轴抛物面镜的离轴量。本专利的优点在于：原理简单、易操作，解决了离轴抛物面离轴量的测量问题。 | ||
交易流程
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选取所需
专利 -
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确认专利
可交易 - 03 签订合同
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成功 - 06 支付尾款
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过户资料
平台保障
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