
成像高光谱检测装置
- 申请号:CN201520863268.8
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院遥感与数字地球研究所
- 公开(公开)号:CN205091252U
- 公开(公开)日:2016.03.16
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 成像高光谱检测装置 | ||
申请号 | CN201520863268.8 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN205091252U | 公开(授权)日 | 2016.03.16 |
申请(专利权)人 | 中国科学院遥感与数字地球研究所 | 发明(设计)人 | 张立福;吴太夏;张红明;张鹏;童庆禧 |
主分类号 | G01N21/25(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/25(2006.01)I |
专利有效期 | 成像高光谱检测装置 至成像高光谱检测装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型涉及成像高光谱检测装置,包括光谱采集单元、运动平台、计算机控制单元和光源,计算机控制单元分别与光谱采集单元、运动平台和光源相连;光源用于照射待测样品;运动平台用于承载待测样品,并在计算机控制单元的控制下进行运动;光谱采集单元,包括依次设置在同一光路上的折返式光学组件、分光器和探测器,折返式光学组件将待测样品的反射光信号投射到分光器,分光器对接收到的反射光信号进行分光,并将分光后的光信号投射到探测器,探测器与计算机控制单元连接,以将采集到的数据上传到计算机控制单元。本实用新型采用了折返式光学组件,对反射光做折返,使装置更加紧凑、降低整个装置的高度,便于调节和运输。 |
交易流程
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专利 -
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