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AlxGa1-xN基紫外探测器及制备方法

  • 申请号:CN201510967933.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN105374903A
  • 公开(公开)日:2016.03.02
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 AlxGa1-xN基紫外探测器及制备方法
申请号 CN201510967933.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN105374903A 公开(授权)日 2016.03.02
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 赵德刚;李晓静;江德生;刘宗顺;朱建军;陈平
主分类号 H01L31/18(2006.01)I IPC主分类号 H01L31/18(2006.01)I;H01L31/0304(2006.01)I;H01L31/101(2006.01)I
专利有效期 AlxGa1-xN基紫外探测器及制备方法 至AlxGa1-xN基紫外探测器及制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种AlxGa1-xN基紫外探测器及制备方法,该AlxGa1-xN基紫外探测器,包括:一衬底,所述衬底的材料为蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓或砷化镓;一N型欧姆接触层,该N型欧姆接触层制作在衬底上;一有源层,该有源层制作在N型欧姆接触层上的一侧,该N型欧姆接触层上的另一侧形成一台面;一P型欧姆接触层,该p型欧姆接触层制作在有源层上;一重掺P型欧姆接触盖层,该重掺p型欧姆接触盖层制作在p型欧姆接触层上;一P型欧姆接触透明电极,该P型欧姆接触透明电极制作在重掺P型欧姆接触盖层上;一N型欧姆接触电极,该N型欧姆接触电极制作在N型欧姆接触层的台面上;一P型加厚电极,该P型加厚电极制作在P型欧姆接触透明电极上,其面积远小于P型欧姆接触透明电极的面积。

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