
低温应用的弹性测试插座
- 申请号:CN201520736256.9
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号:CN205037974U
- 公开(公开)日:2016.02.17
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 低温应用的弹性测试插座 | ||
申请号 | CN201520736256.9 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN205037974U | 公开(授权)日 | 2016.02.17 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明(设计)人 | 莫德锋;刘大福;贺香荣 |
主分类号 | G01J5/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/02(2006.01)I |
专利有效期 | 低温应用的弹性测试插座 至低温应用的弹性测试插座 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本专利公开了一种低温应用的弹性测试插座。包括导热底座、PCB线路板、弹性插针、弹性针导向板和组件针导向板等零件。弹性针导向板和组件针导向板通过定位销钉实现精密对准,焦平面组件针脚插入组件针导向板后与安装于弹性针导向板内的弹性插针接触,弹性插针与底部PCB线路板连接。该测试插座测试时,焦平面组件通过镙丝等锁紧机构固定在导热底座上,导热底座与组件间设有软金属,实现热传递。在弹簧弹力的作用下,组件针脚会与弹性插针保持一定的接触力,但不会损坏针脚。该插座结构紧凑,制作方便,可通过导热底座实现焦平面组件冷却,适用于高密度针脚组件的制冷测试。 |
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