一种二值图像连通区域并行化检测方法及系统
- 申请号：CN201510603162.9
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院半导体研究所
- 公开(公开)号：CN105225236A
- 公开(公开)日：2016.01.06
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种二值图像连通区域并行化检测方法及系统 | ||
| 申请号 | CN201510603162.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN105225236A | 公开（授权）日 | 2016.01.06 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 刘元杰;俞育德;刘文文;魏清泉 |
| 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T7/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种二值图像连通区域并行化检测方法及系统 至一种二值图像连通区域并行化检测方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种二值图像连通区域并行化检测方法及系统，所述方法包括：发起多路计算，将图像分割为多个部分；对分割后的每个部分独立地进行极值构造；将各部分的计算结果进行同步，得到与原图像尺寸相同的数据结果；对所述数据结果进行扫描以获得极值点的个数及位置，该方法只需要一次扫描、比较，所需存储空间小，逻辑简单，能够并行计算，速度快，效率高，尤其适用于大量连通区域检测问题。 | ||
交易流程
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