利用狭缝型成像光谱仪进行地基对月观测的方法
- 申请号:CN201510415279.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN105067115A
- 公开(公开)日:2015.11.18
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 利用狭缝型成像光谱仪进行地基对月观测的方法 | ||
| 申请号 | CN201510415279.4 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN105067115A | 公开(授权)日 | 2015.11.18 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 王淑荣;胡秀清;李占峰;黄煜 |
| 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I |
| 专利有效期 | 利用狭缝型成像光谱仪进行地基对月观测的方法 至利用狭缝型成像光谱仪进行地基对月观测的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 利用狭缝型成像光谱仪进行地基对月观测的方法,属于地基对月观测领域,解决了现有地基对月观测方法存在的对跟踪定位精度要求极高且无法获得高光谱分辨率的月球连续光谱图像的问题。该方法为:根据月球运动轨迹模拟软件得到月球的运动轨迹和运动角速度,将狭缝型成像光谱仪指向月球边缘后固定不动并连续采集月球光谱图像,由于月球的相对运动,整个月球依次进入狭缝型成像光谱仪的视场后进行月球光谱图像探测,将得到的一系列月球长条形光谱图像进行拼接得到整个月球光谱图像信息。本发明采用低精度的跟踪定位二维转台将狭缝型成像光谱仪固定指向某一位置,克服了对现有方法跟踪精度要求极高的难题,最终可以获得高光谱分辨率的月球连续光谱图像。 | ||
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