专利详情

专利名称	一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法
申请号	CN201510389183.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104964664A	公开（授权）日	2015.10.07
申请（专利权）人	国家纳米科学中心	发明（设计）人	葛广路;王瑞敏;陈岚
主分类号	G01B21/08(2006.01)I	IPC主分类号	G01B21/08(2006.01)I;G01B21/10(2006.01)I
专利有效期	一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法至一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法，所述方法包括如下步骤：(1)在梯度溶液中，采用CPS离心粒度仪测定未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径d_c；(2)在相同的梯度溶液中，采用CPS离心粒度仪测定包覆了配体的纳米颗粒的粒径d；(3)根据式(I)计算配体层的厚度：其中，d是包覆了配体的纳米颗粒的粒径；d_c是未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径；Δl是配体层的厚度；ρ_s是纳米裸颗粒的材质密度；ρ_p为梯度溶液的平均密度。本发明首次测定了包覆有配体的纳米颗粒表面配体层的厚度，为研究配体厚度对纳米颗粒在生物系统中的效应的影响做了准备；测试方法简单，重复性好，重现性好，偏差小。