专利详情

专利名称	用于超导带材XRD织构测量的样品固定装置
申请号	CN201520262369.X	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN204630954U	公开（授权）日	2015.09.09
申请（专利权）人	苏州新材料研究所有限公司;中国科学院电工研究所	发明（设计）人	张贺;夏佑科;王延凯;张少斌;桑洪波;戴辉;古宏伟;谢义元;张国栋;蔡渊;其他发明人请求不公开姓名
主分类号	G01N23/20(2006.01)I	IPC主分类号	G01N23/20(2006.01)I
专利有效期	用于超导带材XRD织构测量的样品固定装置至用于超导带材XRD织构测量的样品固定装置	法律状态
说明书摘要	本实用新型公开了一种用于超导带材XRD织构测量的样品固定装置，包括真空吸盘，真空泵，以及连通所述真空吸盘和所述真空泵的真空管路，所述真空吸盘包括上表面作为样品安装面的真空腔体，若干个开口设于所述真空腔体上表面并与所述真空腔体内部连通的毛细孔，以及设于所述真空腔体侧壁上并用于连通所述真空管路和所述真空腔体的抽真空接口，所述真空腔体通过固定装置固定于XRD样品台上；其优点在于，作为一个单独的部件，可直接用于现有的XRD织构测量仪器上，扩展现有XRD织构测量仪器的功能使之可以测量很薄且易变形的超导带材样品，能够提高对超导带材XRD织构测量的精确度和重复性，大大降低了工作的难度，提高测量效率，而且测试样品可无损回收。