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一种基于ATE的FPGA器件测试装置

  • 申请号:CN201520333306.9
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院空间应用工程与技术中心
  • 公开(公开)号:CN204575782U
  • 公开(公开)日:2015.08.19
  • 法律状态:
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专利详情

专利名称 一种基于ATE的FPGA器件测试装置
申请号 CN201520333306.9 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN204575782U 公开(授权)日 2015.08.19
申请(专利权)人 中国科学院空间应用工程与技术中心 发明(设计)人 周珊;王金波;孔璐
主分类号 G01R31/00(2006.01)I IPC主分类号 G01R31/00(2006.01)I
专利有效期 一种基于ATE的FPGA器件测试装置 至一种基于ATE的FPGA器件测试装置 法律状态
说明书摘要 本实用新型涉及一种基于ATE的FPGA器件测试装置,包括测试控制器、波形转换器和测试显示器;所述测试控制器通过波形转换器与被测FPGA器件相连接;所述波形转换器分别与测试控制器和被测FPGA器件双向连接;所述波形转换器与测试显示器单向连接。本实用新型实现一种高可靠且精度能达到纳秒以上的物理测试平台,并实现下列功能:精确的对被测FPGA接口信号的物理特性进行测试;精确的对被测FPGA做接口测试。

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